Система ЦТС
Реальная диаграмма состояний и особенности электрофизических свойств
978-3-659-61453-8
365961453X
176
2014-10-15
71.90 €
rus
https://images.our-assets.com/cover/230x230/9783659614538.jpg
https://images.our-assets.com/fullcover/230x230/9783659614538.jpg
https://images.our-assets.com/cover/2000x/9783659614538.jpg
https://images.our-assets.com/fullcover/2000x/9783659614538.jpg
Построена фазовая х-Т диаграмма (T= 25 °С) системы PbZr1-xTixO3 в полном интервале растворимости компонентов 0.00 ≤ x ≤ 1.00. Установлено, что с ростом x происходит периодическое изменение фазового состава твердых растворов, скорости уменьшения объема ячейки, электрофизических параметров и плотности керамики. Показано, что немонотонный характер изменений электрофизических параметров обусловлен различным вкладом в их формирование спонтанной деформации, преобладающей в тетрагональной фазе, и доменных переориентаций, отличных от 180°-ных, - в ромбоэдрической фазе. Проведена подробная мультифрактальная параметризация зёренной структуры керамик. Выявлены особенности эволюции микроструктуры, связанные с фазовыми изменениями в системе. Подтверждены данные других авторов о том, что в интервале 0.11 < x ≤ 0.12 появляются кластеры тетрагональной фазы, и высказано предположение о том, что в интервале 0.675 < x< 0.80 появляются кластеры ромбоэдрической фазы.
https://morebooks.de/books/tr/published_by/lap-lambert-academic-publishing/47/products
Fizik, astronomi
https://morebooks.de/store/tr/book/%D1%81%D0%B8%D1%81%D1%82%D0%B5%D0%BC%D0%B0-%D1%86%D1%82%D1%81/isbn/978-3-659-61453-8