Couverture de Разработка прецизионных методов исследования несовершенств кристаллов
Titre du livre:

Разработка прецизионных методов исследования несовершенств кристаллов

Некоторые рентгеноинтерферометрические исследования

LAP LAMBERT Academic Publishing (10-07-2013 )

Books loader

Omni badge éligible au bon d'achat
ISBN-13:

978-3-659-41761-0

ISBN-10:
3659417610
EAN:
9783659417610
Langue du livre:
Russe
texte du rabat:
Монография посвящена разработке и применению новых прецизионных интерферометрических и топографических методов исследования несовершенств кристаллов; теоретической разработке обобщенных признаков возникновения и наблюдения рентгеновских муаровых картин в кристаллических системах; разработке рентгеновской дифракционной стереометрической топографии несовершенств монокристаллов с применением кратных интерферометров; обнаружению и исследованию структурных нарушений полупроводниковых кристаллов, вызванных внешними воздействиями. Монография предназначена для широкого круга читателей - научных и инженерно-технических работников, магистрантов и аспирантов, интересующихся вопросами физики твердого тела, материаловедения, а также может быть использована для научных целей и в производстве полупроводниковых приборов.
Maison d'édition:
LAP LAMBERT Academic Publishing
Site Web:
https://www.lap-publishing.com/
de (auteur) :
Арсен Абоян
Numéro de pages:
260
Publié le:
10-07-2013
Stock:
Disponible
Catégorie:
Physique, Astronomie
Prix:
82.90 €
Mots-clés:
сканирование, ионная имплантация, Кристалл кремния, кратные интерферометры, муаровые картины, структурные деффекты, кинематическое и динамическое рассеяние, Лауэ-пятна, маятниковые полосы, секционные топограммы, линии сегрегации, линии смещения

Books loader

Adyen::diners Adyen::jcb Adyen::discover Adyen::amex Adyen::mc Adyen::visa Adyen::cup Adyen::unionpay Adyen::paypal Paypal Virement bancaire

  0 produits dans le panier
Modifier le contenu du panier
Loading frontend
LOADING