Couverture de Динамическая термометрия полупроводника при импульсном световом отжиге
Titre du livre:

Динамическая термометрия полупроводника при импульсном световом отжиге

Исследование методом оптической дифракции

LAP LAMBERT Academic Publishing (14-03-2012 )

Books loader

Omni badge éligible au bon d'achat
ISBN-13:

978-3-8484-2540-2

ISBN-10:
3848425408
EAN:
9783848425402
Langue du livre:
Russe
texte du rabat:
В монографии изложена оригинальная бесконтактная методика исследования динамики нагрева, твердофазной рекристаллизации и анизотропного локального плавления имплантированных полупроводников в процессе импульсного светового отжига. Методика основана на регистрации дифракции Фраунгофера от специальных периодических структур, предварительно сформированных на поверхности полупроводников ионной имплантацией и фотолитографией. Предложенный способ контроля температуры является весьма полезной при изучении импульсных воздействии на твердое тело для широкого диапазона длительностей не только в случае его нагрева, но и в случае охлаждения. Например, при лазерном охлаждении твердого тела. Кроме того, эта методика позволяет измерять коэффициент линейного расширения образцов малых размеров и может быть весьма полезной в дилатометрии.
Maison d'édition:
LAP LAMBERT Academic Publishing
Site Web:
https://www.lap-publishing.com/
de (auteur) :
Мансур Галяутдинов, Яхъя Фаттахов, Булат Фаррахов
Numéro de pages:
80
Publié le:
14-03-2012
Stock:
Disponible
Catégorie:
Physique, Astronomie
Prix:
49.00 €
Mots-clés:
температура, полупроводник, ионная имплантация, рекристаллизация, импульсный световой отжиг

Books loader

Lettre d'information

Adyen::diners Adyen::jcb Adyen::discover Adyen::amex Adyen::mc Adyen::visa Adyen::cup Adyen::unionpay Adyen::paypal Paypal CryptoWallet Virement bancaire

  0 produits dans le panier
Modifier le contenu du panier
Loading frontend
LOADING